{{product.productLabel}}{{product.model}}
{{#如果product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}}{{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE"}}- {{product.productPrice.formattedPriceMax}}{{/如果}}
{{#每个product.specData:我}}{{名称}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/结束}}{{/每个}}
{{{product.idpText}}}
{{product.productLabel}}{{product.model}}
{{#如果product.featureValues}}{{product.productPrice.formattedPrice}}{{#if product.productPrice.priceType === "PRICE_RANGE"}}- {{product.productPrice.formattedPriceMax}}{{/如果}}
{{#每个product.specData:我}}{{名称}}: {{value}} {{#i!=(product.specData.length-1)}}
{{/结束}}{{/每个}}
{{{product.idpText}}}
Auto SE是一个分光镜椭圆计，由HORIBA Scientific制造。它可以通过简单的按钮操作自动分析薄膜样品。在几秒钟内，一份完整的分析报告就生成了，…
HORIBA科学
新的uvisel加:参考椭圆计用于薄膜测量的新UVISEL PLUS光谱仪椭圆计包括最新的采集技术，旨在测量薄膜样品…
HORIBA科学
UVISEL - 2 VUV是一种新一代相位调制技术椭圆计用于VUV测量。这是主要的光谱椭圆计可用，旨在传达最快的薄膜测量…
HORIBA科学
．.．配置。M-2000是第一种椭圆计真正擅长从现场监测和过程控制到大面积均匀性映射和通用薄膜表征的所有事情。没有其他的椭圆计．.．
J.A.伍伦公司
．.．椭圆偏振光谱的应用。先进的测量能力RC2是第一种商用光谱仪椭圆计来收集米勒矩阵的所有16个元素。穆勒矩阵SE允许表征…
J.A.伍伦公司
iSE是一种新型原位光谱仪椭圆计开发用于薄膜加工过程的实时监控。使用我们成熟的技术，iSE使用户能够优化沉积薄膜的光学特性，控制…
J.A.伍伦公司
theta-SE是一种按钮式分光镜椭圆计用于表征薄膜均匀性。它的特点是先进的椭圆测量仪器在一个紧凑的包装在一个合理的价格。全面整合…
J.A.伍伦公司
对于常规的薄膜厚度和折射率的测量，这椭圆计允许您挂载样品，选择与您的胶片匹配的模型，并按“测量”。你在几秒钟内就能得到结果。易于使用的按钮…
J.A.伍伦公司
花瓶®是一个准确和多功能椭圆计用于所有类型材料的研究:半导体、电介质、聚合物、金属、多层等。它结合了高精度和精度与宽光谱…
J.A.伍伦公司
IR-VASE®是第一个也是唯一的光谱仪椭圆计将FTIR光谱的化学灵敏度与光谱椭圆偏振的薄膜灵敏度结合起来。IR-VASE覆盖了广泛的光谱范围……
J.A.伍伦公司
VUV-VASE®可变角度光谱仪椭圆计是光刻薄膜光学表征的金标准。它可以测量从真空紫外线(VUV)到近红外(NIR)的波长。这提供了…
J.A.伍伦公司
椭圆计是一种表面分析装置，它可以测量光束从被分析表面反射之前和之后光偏振的变化。
应用程序椭偏仪在光学、冶金和微电子工业中用于测量表面涂层的厚度，分析保护涂层，测量表面粗糙度等。
技术椭圆计的主要类型是使用宽频带光源的光谱模型和使用单色光源的激光模型。
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