光学显微镜CW2010-DIC

测量 差分干涉对比

特点:1。转换器:五孔，每孔调节焦点和调度中心。消除错误，确保准确性。(独家专利)z轴采用分割图像原理观测测量，结合z轴轨道精度即可保持，能有效保证测量精度。3.DIC棱镜可以水平和垂直移动，两个方向的线偏振光所形成的浮雕图像会产生强烈的立体感。这在普通光学系统中是无法实现的。4.长距离工作光源可选择LED或光纤冷光源。光学系统的所有部件和总成均为进口部件。由国外技术工程师把关、调试和技术控制包DIC系统技术参数应用:CW2010-DIC是无极光学系统，适用于芯片封装的质量检测，微小突出和轻微划痕的观察和测量。 Widely used in electronics, materials, chemical and other fields of research and testing. Is the ideal instrument for research institution's and universities' research and teaching.