涂层厚度分析仪FT230
台式
自动化
光谱仪
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这种产品比较
特征
- 测量值
- 涂膜厚度
- 配置
- 台式
- 的使用方式
- 自动化
- 技术
- 光谱仪
描述
只是聪明FT230台式x射线荧光分析仪的设计大大降低测量的时间。认识到大部分时间是用样本设置和测量配方选择,日立公司的工程师已经创建了一个突破性的分析仪,有效地‘设置’本身,从而能够分析更多的部分在一个转变。自动化和创新的软件是使FT230分析仪。智能识别模块,如发现我™意味着所有操作员需要加载样品,确认和FT230负责其余部分。你会找到合适的测量位置,甚至在大基质——选择正确的分析程序和结果发送给你的质量体系。时间和减少人为错误,你在更少的时间完成更多的分析,进行100%检验更现实的一个繁忙的生产环境。
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FT230
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