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现场发射扫描电子显微镜SU7000
用于分析 BF-STEM DF-STEM

现场发射扫描电子显微镜
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特征

类型
现场排放扫描电子
技术应用
用于分析
观察技术
BF-STEM,DF-STEM
配置
落地
电子源
肖特基田间排放
检测器类型
后冰片电子,次级电子
其他特征
高分辨率,用于纳米技术,同时获得,超高分辨率
解析度

0.8 nm,0.9 nm

放大

最小:20单位

最大限度。:2,000,000单位

描述

SU7000是最终的高性能全能选手:超高分辨率Schottky VP-FESEM,可提供纳米级成像和任何样品的强大微分析。适用于高级材料(例如添加剂制造或新能源解决方案)的应用。
*价格是税前的。他们排除了送货费和海关职责,不包括安装或激活选项的额外费用。价格仅是指示性的,并且可能因国家而异,而原材料和汇率的成本也会变化。