TEM显微镜JEM-ARM300F2

实验室 落地 高分辨率

新的原子分辨率电子显微镜已发布！“ Grand Arm™2”已升级。这种新的“ Grand Arm™2”可以在超高空间分辨率上进行观察，并在广泛的加速电压上进行了高度敏感的分析。FHP2新开发的物镜晶状体件FHP物镜镜头件被优化用于超高空间分辨率观察。在保持这种能力的同时，对极尺寸双SDD（158 mm2）的X射线实体角度和起飞角进一步优化了杆片的形状。结果，FHP2的有效X射线检测效率是FHP敏感的两倍以上。它可以在EDS元素图中提供子角分辨率。新外壳TEM色谱柱被盒子式外壳覆盖，这可以减少环境变化的影响，例如温度，气流，声音噪声等，然后改善显微镜的稳定性。ETA校正和JEOL COSMO™快速准确的畸变校正JEOL COSMO™仅使用从任何非晶区域获取的2个Ronchigrams来测量和纠正畸变。因此，系统可以在没有专用标本的情况下提供快速准确的像差校正。 Improvement of stability New CFEG (Cold Field Emission electron Gun) adopted a smaller SIP with a larger evacuation volume than before for GRAND ARM™2. Enhancement of evacuation volume of SIP improves the degree of vacuum near the emitter inside CFEG, and also improves the stability of emission and probe currents. The miniaturization of SIP can reduce the total mass of CFEG by ~100 kg.