电子探针显微分析仪(电子探针)jxa - 8530 fplus

JEOL商业化的世界上第一个FE-EPMA, 2003年jxa - 8500 f。这个高度重视FE-EPMA一直被使用在各个领域,如:金属、材料和地质行业和学术界。jxa - 8530 fplus是第三代FE-EPMA,增强分析和成像能力。镜头的肖特基场发射电子枪结合新的软件提供了更高的吞吐量,同时保持高稳定性,从而允许更大范围的电子探针的应用程序要实现更高的分辨率。镜头肖特基+ FEG电子探针版本镜头肖特基+ FEG电子探针,以优化角电流密度,可以分析大型探测器电流2μa或更多。二次电子图像的分辨率已得到改进甚至在分析条件下通过自动调整为正确的收敛角。先进的软件丰富的Microsoft Windows®的先进的应用系统,包括:•微量元素分析程序简单,优化分析微量元素添加5光谱仪收集的数据包括,•阶段地图制造商的自动创建阶段地图基于主成分,•里表面分析程序进行自动化改进算法分析和表面不规则的标本。这可能是由于大Z旅行的阶段(7.5毫米)。通知:Windows是微软公司的注册商标在美国和其他国家。改进算法实现了灵活的配置