半导体测试系统S530系列

高压 低压 中压

今天的模拟和功率半导体技术，包括GaN和SiC等宽带隙器件，需要参数测试，以最大限度地提高测量性能，实现更快的上市时间，支持广泛的产品组合，并最大限度地降低测试成本。Keithley通过高速生产解决方案和完全可定制的测试解决方案来满足整个工作流程中关键应用程序的这些和其他重要挑战。高速生产测试解决方案应用包括半导体过程控制监测(PCM)、TEG测试和模具排序并行测试能力最大限度地提高测试吞吐量在单个探针触地时测量从kV到fA，进一步提高生产率ISO-17025系统级校准从传统测试系统平稳迁移，包括探针卡重用低拥有成本(COO)