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光学检查机29xx系列

用于图案化的晶圆高分辨率缺点

激光检查系统Voyager™

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光学检查机PUMA™9980

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光学检查机Archer™系列

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厚度测量系统Spectrafilm™

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固定厚度测量机Aleris系列

几何测量系统Wafersight™系列

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标线制造和质量控制

生产检查系统Teron™6XX系列

晶圆检查系统Teron™SL6XX系列

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包装制造

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光学检查系统Candela CS920

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硬盘驱动器（HDD）表面缺点

表面经理计和表面计量学

光学考验仪alpha-step d-500

3D 手写笔粗糙度

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光学考验仪Zeta-20

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硬度测试缩进器imicro

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硬度测试机Insem®HT

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