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光学检测机烛光™71 xx
硬盘驱动器
表面
缺陷
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特征
- 技术
- 光学
- 应用程序
- 硬盘驱动器(HDD)，表面
- 其他特征
- 缺陷
描述
硬盘驱动器介质和基片缺陷检测和分类系统Candela®71xx系列先进的介质和基片缺陷检测和分类系统用于硬盘驱动器制造，有助于最大限度地提高产量和降低硬盘检测成本。双光路配置可对关键亚微米缺陷(如微坑、凸点、颗粒和埋藏缺陷)的独特缺陷特征进行分类。该坎德拉7110配置支持手动加载基片进行检查，而坎德拉7140提供全自动卡带到卡带基片加载。高灵敏度(HS)选项为裸玻璃和金属基板检测提供了增强的灵敏度和捕获率。应用程序硬盘驱动器进程和工具监控
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