HRP®-260是高分辨率,纸盒到纸板的手写笔伪造者。HRP通过为半导体,复合半导体,高亮度LED,数据存储和相关行业提供自动晶圆处理能力提供了可靠的生产性能。P-260配置支持步骤高度,粗糙度,弓和应力的2D和3D测量,可扫描到200mm,而无需缝合。HRP®-260配置具有与P-260相同的功能,再加上高分辨率阶段,可在更高分辨率和更快的吞吐量下测量小特征。HRP®-260具有双阶段能力,用于测量纳米和微表面地形。P-260配置提供了长时间的扫描(最高200mm)的功能,而无需缝合,而HRP®-260提供了高分辨率扫描阶段,可达90µm扫描长度。P-260与Ultralite®传感器,恒定力控制和Ultra-FAR扫描阶段的组合实现了出色的测量稳定性。HRP®260通过高分辨率压电扫描阶段增强了功能。配方设置非常容易,可以通过点击舞台控件,低速放大元件和高分辨率的数码相机。HRP®-260支持2D和3D测量,并具有多种过滤,升级和数据分析算法,以量化表面地形。 Fully automated measurements are achieved with automated wafer handling, pattern recognition, sequencing and feature detection.