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光谱反射测厚仪SR710S
静止的
涂层
金属
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特征
- 类型
- 静止的
- 应用程序
- 涂料、金属、薄膜、箔
- 技术
- 光谱反射率
- 其他特征
- 精度
描述
测量层压板，金属和金属化基材上的薄涂层专门设计用于测量铝或金属化薄膜，印刷薄膜或箔基材上的薄，透明或浅着色有机涂层。•高性能测量-具有7.5毫秒的测量速度(比其他红外仪表快10倍)，SR710S提供高速测量性能，精度高，在快速移动的网络上实现稳健，可靠的测量•在任何环境中都经过验证的性能-不受过程和环境条件变化的影响，如照明波动，温度，相对湿度，空气质量(灰尘，蒸发，内容等)。•非核技术-不需要特殊许可或保护装置•全面控制和过程可见性-当SR710S安装在NDC的高性能扫描仪上并集成到NDC TDi卷材测量系统中时，•卓越的支持-所有系统都由NDC专门的全球客户服务组织提供支持，通过myNDC云服务全天候提供服务
