DF-730是一款超微量水分分析仪,可监测半导体晶圆厂中使用的电子级高纯度氯化氢(HCl)气体。DF-730用于分析半导体晶圆厂中使用的电子级HCl中的水分污染,是质量控制和泄漏检测应用的理想选择。Servomex业界领先的可调谐二极管激光(TDL)传感技术和强大的Herriot Cell可实现十亿分之十(ppb)到百万分之十(ppm)的广泛测量范围。通过确保水分只与最小的光学元件接触,DF-730的性能不受镜面反射率损失的影响-确保稳定,准确和一致的快速响应测量。DF-730领先的TDL传感技术提供零漂移,有助于延长维护周期并减少校准需求。DF-730具有高性能、超稳定的监测能力和可观的运营成本节约,是半导体晶圆厂理想的纯度监测解决方案。